2019年7月30日 · 摘要:针对晶体硅太阳电池缺陷的检测问题,利用多种测试设备（EL、PL、Corescan等）,在电池制作的主要工序段（扩散、镀膜、印刷、烧结）对硅片和电池片进行检测,归纳和总结了电池的各种典型缺陷的成因,利用这些检测手段和分析结果,能够及时
2022年10月13日 · EL测试的图像亮度与电池片的少子寿命（或少子扩散长度）与电流密度成正比,在有缺陷的区域,其少子扩散长度低,发光强度弱。 由于电池片中有缺陷区域没有发出红外光,从而形成"暗区",故在EL图像中呈现"黑斑"。
2019年4月28日 · 由于电池片中有缺陷区域没有发出红外光,故在EL图像中呈现"黑斑"。 类型1：特别黑的小点,位置随机不固定; 类型2：密集型黑点,黑点区域广,一般满片均匀分布; 类型3：大黑斑,颜色灰色、深灰,位置比较规则; 以下将对上述几种进行简要分析： 1、效率. 该类异常黑斑,在电性能无明显体现在FF、Isc、Voc、Rsh上。 (说明该类异常片主要非来自正面的影响,
2020年11月25日 · EL黑斑是指电池片在EL测试时,显现出来的黑色斑状不良。 EL全方位称为：Electroluminescence,电致发光,其原理是给太阳电池加正向偏压,电子在价带与导带间跃迁导致发光,被相机采集并转换成图像。
2020年11月25日 · 当电池片存在复合中心时,复合中心处发光强度减弱,表现出发黑。本文分为三大部分：一.EL黑斑产生机理；二.EL黑斑的解决方案；三.EL黑斑的影响。一.EL黑斑产生机理 1.1EL黑斑的定义：EL黑斑是指电池片在EL
2019年11月15日 · 本文主要针对电池片的EL测试规则黑斑问题展开分析并提出一些意见。 EL测试原理. EL测试仪是通过对电池片通入1-40mA的正向电流,作用于扩散结两边,电能把处于基态的原子进行激发,使其处于激发态,处于激发态的原子不稳定,进行自发辐射。 通过滤波片的作用及底片的曝光程度来了解在自发辐射中本征跃迁的情况,通过少子寿命、密度与光强间的关系,从
2021年4月13日 · 原因1解决思路：控制5.0μm级粉尘,减少0.5μm级悬浮颗粒,可有效减少车间黑斑发生率；镀膜工序的车间洁净度控制在千级范围内,黑斑发生率能控制在2%以下。
片和原因分析 备注 后期重点从工艺方面改善 异常几率很小,硅片外观就可以区别 炉门没关好,方阻100左右 扩散前装舟时有轻微缝隙,发白区 域较宽 手动拿片子在脏印台纸上摩擦。模 拟印台污染的影响 相当于双面扩散
2022年6月14日 · 本文针对 EL 图像边缘发黑的 PERC 单晶硅太阳电池 ( 下文简称"太阳电池") 的电性能进行了测试,以分析出导致其EL图像边缘发黑的原因,并通过相关测试进行验证。 1 测试仪器与试验设计. 1.1 测试仪器.
2018年6月8日 · 黑斑电池片与正常电池片随波长的变化趋势相近,表明黑斑的产生原因与原生硅片的质量无关。 从图6可以看出,在中波段,黑斑小样片的量子效率比正常电池片的低5%左右。
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