多层陶瓷电容器(MLCC)分为根据测量电压而电容变化的高介电常数型以及不会变化的温度补偿型。 规定电容时的测量条件分别按照温度补偿性、高介电常数型的JIS标准来规定。 ※其他为初始设置。 ※这是测量范例。 由于最高适合的条件根据被测物不同会有差异,因此请使用者自行决定。 JIS C5101-21用于表面贴装的定瓷电容器种类1 温度补偿型(CH、C0G等)(IEC30384-21)
2013年7月30日 · 首先,叙述影响静电容量和介质损耗角正切的片状独石陶瓷电容器的特性。随后,叙述实际 使用的LCR仪表及测量原理,最高后,举例说明片状独石陶瓷电容器的静电容量和介质损耗角 正切的精确的测量方法。 2.片状独石陶瓷电容器的特性
2021年3月5日 · 相信接触电容器行业的小伙伴都有了解过测安规陶瓷电容器的好坏,小编也整理一些检测方法,望大家能查漏补缺! 1.容量大的固定安规陶瓷电容器可用万用表的电阻档(R×1000)测量电容器两 电极,看表针的摆动情况,摆幅越大,表明电容器的电容量
2023年6月25日 · 多层陶瓷电容器(MLCC)技术的发展为设计人员提供了一种高容量替代传统电解电容器的方法。 新的高值 MLCC s提供了较低等效串联电阻(ESR)和电感(ESL)的优点,同时也证明了1万到100万年以上的失效时间(MTTF)。
2024年11月6日 · Vishay的陶瓷电容器产品市场经理Michael Lobenhofer博士强调,随着工业电子设备在极端条件下的工作需求日益增加,对高可信赖性和质量的标准也在不断提高。
2012年6月28日 · 本次将对陶瓷电容器的静电容量测量方法进行说明。 1. 测量仪器. 一般使用LCR测试仪测量陶瓷电容器的静电容量。 2. 测量原理. LCR测试仪的代表性测量方法如图所示,为自平衡电桥法。 其原理如下。 DUT为Device Under Test的缩写,指测量对象。 高增益放大器会自动调整增益,使通过电阻R的电流与通过DUT的电流相等,DUT 的低电位侧 (图中L一侧)一直
2023年12月6日 · 独石陶瓷电容器的绝缘电阻表示当在电容器端子之间施加直流电压(无纹波)时,在设定时间(比如60秒)之后施加电压和漏电流之间的比率。 此外,充电电流、吸收电流、漏电电流无法明确区分。
2010年6月12日 · 为了规范公司陶瓷电容器检验项目,确保产品质量,特制定此规范。 2.适用范围 适用于所有陶瓷电容器的质量控制及来料检验
6 天之前 · IR(Insulation Resistance,绝缘电阻)是电容器中的电介质材料电阻漏电流的程度。 它是电介质材料本身的电阻*1。 IR可通过漏电流来测量。 知道漏电流和外加电压,即可根据欧姆定律计算绝缘电阻。 测量漏电流有两种基本方式。 首先,用一个与电容器和电压源串联的电流表(图1)。 其次,用一个与电阻器并联的伏特计,然后串联连接到电容器和电压源(图2)。
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